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Contents:

  • LE5010
  • SDK
  • Application Notes
  • Manufacture & Test
    • BQB_Test_Guide
    • RF_Test_Guide
    • RF_Antenna_Matching_Guide
  • Solutions
  • Traning Videos
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  • Manufacture & Test
  • 在 GitHub 上编辑

Manufacture & Test

  • BQB_Test_Guide
    • 1. 1 BQB测试的必要性
    • 1. 2 开发板连接&烧录
    • 1. 3 CMW500按键说明
    • 1. 4 建立连接
    • 1. 5 TX配置&测试
      • 1. 5. 1 测试信号类型设置
      • 1. 5. 2 信号路径、线损、信道设置
      • 1. 5. 3 测试结果&视图设置
    • 1. 6 RX配置&测试
      • 1. 6. 1 RX测试环境
      • 1. 6. 2 信号路径、线损、信道设置
      • 1. 6. 3 单次PER测试
      • 1. 6. 4 PER Search测试
  • RF_Test_Guide
  • RF_Antenna_Matching_Guide
    • 1.1 概述
      • 1.1.1 天线参数
      • 1.1.2 PCB天线
    • 1.2 测试环境
    • 1.3 测试方法
      • 1.3.1 单Π型电路
      • 1.3.2 双Π型电路
      • 1.3.3 同轴线缆连接注意事项
    • 1.4 测试步骤
      • 1.4.1 初始设置
      • 1.4.2 校准
      • 1.4.3 芯片上电置于接收模式
      • 1.4.4 调整匹配
      • 1.4.5 Smith圆图简介
      • 1.4.6 Smith圆图软件仿真
      • 1.4.7 匹配规则事项
    • 1.5 测试demo
      • 1.5.1 匹配前
      • 1.5.2 smith图匹配
      • 1.5.3 匹配后
    • 修订记录
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